CND探伤仪 USIP|xs CV
多通道

CND探伤仪 - USIP|xs CV - Waygate Technologies - 多通道
CND探伤仪 - USIP|xs CV - Waygate Technologies - 多通道
CND探伤仪 - USIP|xs CV - Waygate Technologies - 多通道 - 图像 - 2
CND探伤仪 - USIP|xs CV - Waygate Technologies - 多通道 - 图像 - 3
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产品规格型号

应用
用于 CND
选项和配件
多通道

产品介绍

改进的多仪器结构有助于优化自动化能力,并提供更多的接口和灵活性。USIP|xs CV 可被集成到任何自动化和半自动化的检测系统中。

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展厅

该卖家将出席以下展会

Formnext Chicago
Formnext Chicago

8-10 4月 2025 Chicago (美国-伊利诺斯州)

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。