X射线平板探测器 Dynamic 41|200

用于 CND数字

Dynamic 41|200 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台产品。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比，Waygate 专有的 EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。 凭借大约 405 x 405 mm² (16 "x16") 的检测区域和200 µm 的像素，与传统的 200µm DXR 平板探测器相比，它可以将检测周期时间增加 2-3 倍而不影响图像质量。 不同于从不同供应商采购大部分核心组件组装产品的做法，Waygate Technologies 是唯一一家将其专有核心部件，如 X 射线管、发生器、软件以及数字平板探测器结合起来形成统一的高性能系统的工业 CT 制造商。新型 Dynamic 41|200 平板探测器专为 Waygate Technologies 的客户提供。 它是 phoenix v|tome|x c、m 和 L CT 系统的标准配置。 根据要求，Dynamic 41|200 也可用于 Seifert x|cube。 产品特点 •具有超大 16 英寸检测面积、100 µm 的像素 (4 MP) 的 X 射线平板探测器，可根据工业高能量消耗的长期可靠性进行设计和优化。 •高分辨率图像，便于检测细微的迹象（使用微聚焦 X 射线管可检测 100 µm 的特征）。 新一代光电二极管设计，与最先进的 200 µm 像素 DXR 平板探测器相比，效率和灵敏度提高了 10 倍，可在不•影响图像质量的情况下将分辨率提高 2-3 倍。