红外显微镜物镜 Infra-SW series

用于机器视觉用于检测检查

与可见光和其他热波段相比，短波红外 (SWIR) 波段具有独特的成像优势。 它在用于电子板检测、材料/食品分拣、太阳能电池检测、质量检测和军事应用的工业机器视觉领域正在悄悄地赢得越来越多的一席之地。 SWIR 镜头用于其他检测器或相机不够灵敏以进行有限细节识别的情况。 短波红外线 (SWIR) 光是电磁波谱的第二个波长范围，通常在 0.9μm 至 2.5μm（900nm 至 2500nm）波长范围内，因此人眼不可见。 然而，SWIR 光以与可见光波长相似的方式与物体相互作用，因为光子被物体本身反射。 由于这种反射特性，SWIR 光在其生成的图像中具有对比度和阴影，这是高分辨率成像的必要要求。 SWIR 不同于中波红外 (MWIR) 和长波红外 (LWIR) 光，后者以热红外（热）的形式从物体发出，因此分辨率较低，显示的图像细节较少。 SWIR 波长只能被砷化铟镓 (InGaAs) 等传感器看到。 来自 InGaAs 相机传感器的图像在细节和分辨率上与可见光图像相当，但颜色不同。 这是 SWIR 的众多优势之一，因为它可以更轻松地识别和单独识别物体。