X射线检测系统 Apogee 90
数字自动化缺陷检测

X射线检测系统 - Apogee 90 - VJ Electronix  - 数字 / 自动化 / 缺陷检测
X射线检测系统 - Apogee 90 - VJ Electronix  - 数字 / 自动化 / 缺陷检测
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产品规格型号

技术
X射线, 数字
运行模式
自动化
类型
缺陷检测
应用
用于电子行业, PCB印刷电路板
其他特性
高解析度

产品介绍

新一代价格适中的X射线检测设备 配备了先进的检测软件和分析工具,自动计算空洞率等; 检测区域不小于460mm*460mm; 系统放大率不小于2784倍,几何放大率不小于196倍; 可实现以65°倾斜角进行检测 X射线源 - 90 kV 焦点尺寸 - 3µm 检测尺寸 - 18.1”x18.1” (460x460mm) 空间分辨率 - 85µm (58 LP/mm) 最大视野尺寸 - 5.1”x5.1” (130x130mm) 操纵轴 - 6
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。