折射率探测器 PVI-4TE-8

半导体式动态半球形

3.2 - 9.0 µm，四级热电冷却，光学浸入式。 PVI-4TE-8是基于复杂的HgCdTe异质结构的四级热电制冷红外光电探测器，以达到最佳的性能和稳定性，光学浸入式以改善器件的参数。该探测器在λopt=8.0μm时进行了优化，以获得最大性能。切入波长可根据要求进行优化。反向偏置Vb可显著提高响应速度和动态范围。它还可以改善高频性能，但偏置器件中出现的1/f噪声可能会降低低频性能。3°楔形硒化锌抗反射涂层(wZnSeAR)窗口可防止不必要的干扰效应。 特征：在3.2 - 9.0 µm光谱范围内具有高性能。 - 在3.2 - 9.0 µm光谱范围内具有高性能。 - 四段式热电冷却器 - 超超微透镜技术的应用。 - 不需要偏见 - 无1/f噪音 参数：PVI-4TE-8 PVI-4TE-8 材料。 MCT 类型: 光伏 沉浸式。 沉浸式： 冷却。 四级 波长/λopt/µm: 8 封装 TO8, TO66 窗口：楔形Al2O3 检测率/D∗/cm-Hz1/2-W-1：≥4.0x109。 时间常数/ τ/ ns：≤45。