热成像成像仪 ThermalVewX MCR series

半导体工业测量红外

"ThermalViewX MCR 系列 "是一种热成像技术，可以测量热电偶无法测量温度的微小区域。它可以测量高达 400 摄氏度的温度，还可以选择测量微米级的温度。它已被许多国家和公共研究机构、大学和工业公司采用。它被用于半导体相关领域、碳中和领域以及绿色能源相关领域。