VEA光学测微仪有270多种型号,是在生产环境中直接精确测量100%零件的理想解决方案。这些千分尺可以同时进行表面质量控制。
VEA光学千分尺可以安装在任何类型的工厂或生产线上,而不会有精度损失的风险,因为它们有一个简化的校准系统,使得连接光学单元和照明器的预校准支架变得多余
VEA光学千分尺作为这些仪器的领先制造商,通过一系列专利技术保证了工业环境下的精度。
• - 带4级热补偿 LTC (实验室热补偿) 可以在生产环境中对温度范围在10°到60°之间的零件进行测量,其精度与计量实验室中的测量精度相同(20°±1°)。
• - 该模块 MSA(微稳定精度) 执行三个基本功能:稳定环境振动,提高测量精度,分析零件的可测量性,提供实时重复性值。
• - 技术的使用 XVR2(扩展虚拟分辨率2 由于日益先进的深度学习技术,可以使用750 Mpixel的卓越分辨率。
• - 电子过滤器 DAF(脏污高级过滤器) 评估沉积在工件上的污垢量,以便产生正确的测量结果或表明工件需要清洁。
• - 该 自动生成测量轴 使千分尺即使在不对准的部件上也能进行正确的测量。
• - 该 多主件自动校准 (最多20个),即使不需要专门的操作人员帮助,也能保证千分尺的精度,随着时间的推移。除标准校准块外,被测母样也可用于校准。
• - 照明器a 交错多色光 (白色视觉外观)可以消除一些材料上由于单色光(红、绿、蓝视觉外观)的斑点效应而造成的测量不准确。