X射线检测系统 IRIX DLV AXIS

测量几何特征用于制药业

IRIX DLV AXIS X 射线产品检测设备采用双垂直侧射，这是一种使用两个发生器的几何类型。这种检测方式特别适用于无法避免产品规格和类型变化的情况，例如，在准备预制产品（高罐、低罐等）的工厂。 其先进的 X 射线技术可对铁质和非铁质材料、不锈钢和石块进行超强检测。它们还能同时检测产品损坏、破损、质量测量（估计重量）以及产品内的物品数量。 该系统符合国际电离辐射安全标准。 产量：最高 1200 p/min。 存储格式 多达 900 个产品 屏幕 17 英寸 LCD-LED 彩色触摸屏 防护等级 IP54 / P66（可选） 电机 异步电机和/或伺服电机 工作温度 0-40 ºC 制造材料 不锈钢 AISI 304 / AISI 316（可选） 产品最大尺寸 根据需要 工作高度 800-1200 毫米 分辨率 0.8 至 0.4 毫米/像素 速度 最高 200 米/分钟 高压源 最大80 kV - 最大5 mA 最大 600 W600 W 高耐久性