温度测量系统 ZEM-5

Seebeck系数/电阻测量系统 ZEM-5 系列A对应于各种热电材料和薄膜的性能的特殊规格 赛贝克系数/电阻测量系统，可满足各种规格要求 专门从事高温材料、高电阻材料、薄膜等材料的特性。 特殊 特性/其他应用评估各种材料（包括半导体、陶瓷和金属）的热电性能。 特点一系列对应于各种热电材料和 薄膜 C 型热电偶用于温度检测传感器，因此该系统最适合评估硅基热电材料（SiGe、MgSi 等）（HT 型号） V/I 图，自诊断欧姆接触是标准 温度高达 1200° C 的高温测量（HT 型号） 测量最高 10 MΩ 的高阻力（HR 型号） 测量在基板上形成薄膜的材料（TF 型号） 测量低温从-150° C 到 200° C（型号 LT） 专利和标准 热电功率 JIS R 1650-1 电阻率 JIS R 1650-2