临界尺寸测量系统 MT3000VIS/IR
红外摄像机式用于半导体

临界尺寸测量系统 - MT3000VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - 红外 / 摄像机式 / 用于半导体
临界尺寸测量系统 - MT3000VIS/IR - TZTEK Technology Co.,ltd - 红外 / 摄像机式 / 用于半导体
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产品规格型号

物理量
临界尺寸
所用技术
摄像机式, 红外
所测量的产品
用于半导体

产品介绍

天准半导体红外测量系统在全球处于头部地位。系统将高性能红外相机与设计优化的红外光学结合,提供具备出色分辨率和对比度的图像,实现基板的顶部、底部和内部结构的有效测量 主要特点 •支持定制适用于不同产品的自动化搬运方案 •可见光和红外光组合,反射光和透射光组合 •SECS/GEM •长期维护成本低,喼定可靠
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。