自动化干涉仪 WaveMaster® PRO 2 / PRO 2

波前分割

对小型塑料或玻璃镜片、光学窗的批量生产的质量和效率要求不断提高。 在批量生产中使用波前测量技术可以产生很大的优化潜力。 WaveMaster® PRO 2 和 PRO 2 晶圆在光学和光学晶圆系列测试中树立了新的标准。 每个光学仪器的典型测量时间为 2 秒，并且快速更换托盘或晶圆，满足了批量生产的先决条件。 在测量技术方面，WaveMaster® PRO 2 和 PRO 2 晶圆利用哈特曼传感器确定波前，从而得出各种参数。 然后对每个镜头进行与设计数据的比较。 一个非常好的数据池，用于生产中的其他优化。 主要特点 测量持续时间：每个镜头不到 2 秒 对大量样品（晶圆或预装托盘）的全自动测量 用户可选的 PASS 和失败标准 绝对或相对波前测量 完整波前分析（PV，RMS，Zernike，PSF， MTF, Strehl) 提供两种 设置用于测量球面及非球面镜片（单镜片或晶片）的 设置，用于测量平面（单面或晶片）的设置， 导出每个单镜片的所有测量结果 选项：集成测量系统 测量晶圆方向，整体晶圆弓和倾斜