X射线检查机 TR7600LL SV

光学CT3D

TR7600 SV 系列是最新发布的线扫描三维 AXI，与屡获殊荣的 TR7600 SIII 系列相比，性能提高了 20%。这款高速三维 AXI 采用人工智能算法，可以精确检测空隙缺陷。TR7600 SV 系列具有 7 µm 的高分辨率，可提供高产率检测。 该强大的平台能够快速重建图像并检测 BGA、桶状填充、电容器、芯片、射频屏蔽下的元件、CSP、DIMM 连接器、倒装芯片、接地垫、鸥翼、散热器、J-引线、LED 芯片、LGA、Paladin 连接器、电阻器、RNET、SiP、SMT 连接器、SOIC、SOT、散热垫、QFN、QFP 和 THT 中的缺陷。 - 7 µm 高性能检测，性能比旧型号提高 20 - 新型运动控制器 EtherCAT，用于实时测量，便于维护 - 人工智能检测算法，可实现精确的缺陷检测 - 智能工厂就绪，可轻松连接 MES - 全球技术支持服务 成像系统 摄像头 - 超高速线扫描 CCD 3 或 5 个单元（9 或 15 个传感器） X 射线源 - 60 -130 kV 成像分辨率 - 7 μm - 25 μm 检测方法 - 2D、2.5D、3D 切片、平面 CT（可选）