X光光电子光谱仪 Nexsa G2 XPS

数据采集自动化

X 射线光电子能谱仪，具有自动表面分析和多技术功能。 X 射线光电子能谱 Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统提供全自动、高通量的表面分析，可提供用于推进研发或解决生产问题的数据。XPS 与离子散射光谱 (ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失光谱 (REELS) 和拉曼光谱的集成，使您能够进行真正的相关分析。该系统现在还包括样品加热和样品偏置功能选项，从而扩大了实验范围。Nexsa G2 表面分析系统为材料科学、微电子学、纳米技术开发和许多其他应用领域的进步挖掘了潜力。 高性能 X 射线源 新型低功耗 X 射线单色仪允许以 5 微米为单位选择从 10 微米到 400 微米的分析区域，确保从感兴趣的特征收集数据，同时最大限度地增加信号。 优化的电子光学 高效电子透镜、半球形分析器和探测器实现了极佳的可探测性和快速数据采集。 样品观察 Nexsa XPS 系统的专利光学观察系统和 XPS SnapMap 可帮助您利用完全聚焦的 XPS 图像快速确定感兴趣的区域，从而聚焦样品特征。