TEM显微镜 Themis ETEM

质量控制用于材料分析原位

用于材料分析的原子分辨率TEM，具有用于原位TEM研究的环境模式。 如果你的重点是原子尺度的研究，在纳米结构特征的长度尺度上原位观察结构动态是极其重要的。Thermo Scientific Themis ETEM建立在成熟的Titan环境透射电子显微镜（ETEM）概念之上，结合了标准TEM/STEM（TEM和扫描透射电子显微镜）和专用环境TEM功能，用于时间分辨、原位研究纳米材料的动态行为。Themis ETEM被设计成一个完全集成的平台，用于原位实验，如将纳米结构暴露在气体反应/操作环境中。 环境TEM的优势 新的Themis ETEM现在也受益于Thermo Scientific Themis Z S/TEM的功能。 - 通过NanoEx-i/v加热平台，在任何气体环境中精确控制和了解样品温度。 - 使用压电增强型平台，提高了样品的稳定性、导航性，并在X、Y、Z轴上进行辅助样品漂移校正。 - 通过在一台Thermo Scientific Ceta 16M相机中结合速度、高灵敏度、高动态范围和大视野，实现了先进的高质量成像和电影采集功能，以及样品导航。 - 使用64位操作系统处理和处理大型数据集。 自动化和易于使用 通过对所有操作参数的全面软件控制--适用于新手和高级操作员。 无窗成像 通过创新的差压式物镜。