TEM显微镜 Spectra 300

用于材料研究用于半导体高解析度

高分辨率TEM和STEM显微镜，用于所有材料科学和半导体应用。 对于科学家来说，要推进他们对复杂样品的理解和开发创新材料，他们必须能够获得强大的、精确的仪器，能够把形式和功能联系起来，以及解决空间、时间和频率问题。 赛默飞世尔科技公司推出了Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM--适用于所有材料科学应用的最高分辨率、畸变校正的扫描透射电子显微镜。 Spectra 300透射电子显微镜的优势 所有Spectra 300 (S)TEM都是在新的平台上交付的，旨在通过被动和（可选）主动振动隔离，提供前所未有的机械稳定性和最高成像质量。 该系统被安置在一个完全重新设计的机壳中，带有一个内置的屏幕显示器，方便试样的装载和取出。首次提供了完全的模块化和可升级性，在高度可变的未校正和单校正配置之间，为不同的房间配置提供了最大的灵活性。 Spectra 300 (S)TEM可以选择配备一个高能量分辨率的极场发射枪（X-FEG）/Mono或一个超高能量分辨率的X-FEG/UltiMono。这两种光源的单色器都是通过单键操作自动激发和调谐的，通过分别使用OptiMono或OptiMono+，在每种配置上实现最高的能量分辨率（见下面的视频）。