传输式电子显微镜 Spectra 200

质量控制用于材料研究用于半导体

用于所有材料科学应用的高通量TEM和STEM显微镜。 对于科学家来说，要推进他们对复杂样品的理解和开发创新材料，他们必须能够获得强大的、精确的仪器，能够把形式和功能联系起来，以及解决空间、时间和频率问题。 赛默飞世尔科技公司推出了Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM，这是一款用于所有材料科学应用的高通量、像差校正的（扫描）透射电子显微镜。 Spectra 200扫描透射电子显微镜的优势 所有Spectra 200 (S)TEM都是在新的平台上交付的，旨在通过被动和（可选）主动振动隔离提供前所未有的机械稳定性和最高的成像质量。 该系统被安置在一个完全重新设计的机壳中，带有一个内置的屏幕显示器，方便试样的装载和取出。首次提供了完全的模块化和可升级性，在高度可变的无校正和单校正配置之间，为不同的房间配置提供了最大的灵活性。 Spectra 200 (S)TEM可以由一个新的冷场发射枪（X-CFEG）驱动。X-CFEG具有极高的亮度（>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*），低能量扩散，并可在30 - 200 kV范围内操作。这提供了高分辨率的STEM成像和高探针电流，用于高通量、快速采集STEM分析。通过X-CFEG和S-CORR探针像差校正器的强大组合，可以经常实现探针电流超过1000 pA的亚安格伦STEM成像。