电子扫描显微镜 Verios 5 XHR

计量学用于材料研究用于半导体

具有亚纳米分辨率和高材料对比度的纳米材料的扫描电子显微镜表征。 Verios 5 XHR扫描电子显微镜 Verios 5 XHR扫描电子显微镜在整个1 keV到30 keV的能量范围内提供亚纳米级的分辨率，具有出色的材料对比度。前所未有的自动化水平和易用性使任何经验水平的用户都能获得这种性能。 扫描电子显微镜表征 - 使用UC+单色电子源进行高分辨率纳米材料成像，在1-30千伏范围内具有亚纳米级性能。 - 敏感材料上的高对比度，性能优异，降落能量低至20eV，高灵敏度的柱内和透镜下探测器和信号过滤，实现低剂量操作和最佳对比度选择。 - 使用Elstar电子柱的SmartAlign和FLASH技术，大大缩短了任何经验水平的用户获得纳米级信息的时间。 - 利用ConstantPower透镜、静电扫描和两种压电平台的选择，获得一致的测量结果。 - 灵活地使用大腔体的附件。 - 使用Thermo Scientific AutoScript 4软件进行无人值守的SEM操作，这是一个可选的基于Python的应用编程接口。 SmartAlign技术 SmartAlign技术消除了用户对电子柱的任何对准需求，这不仅最大限度地减少了维护，而且提高了您的生产力。