电子扫描显微镜带有聚焦离子探头显微镜 Helios 5 DualBeam

用于材料研究3D高解析度

TEM和STEM成像或原子探针断层成像的样品制备。易于使用，具有先进的自动化功能。能够进行高质量的地下三维表征。 FIB样品制备 新的Thermo Scientific Helios 5 DualBeam建立在业界领先的Helios DualBeam系列的高性能成像和分析能力之上。它经过精心设计，以满足材料科学研究人员和工程师对广泛的聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）使用案例的需求--即使是对最具挑战性的样品。 Helios 5 DualBeam重新定义了具有高材料对比度的高分辨率成像标准；快速、简便、精确的高质量样品制备，用于（S）TEM成像和原子探针断层扫描（APT），以及高质量的次表面和三维表征。在Helios DualBeam系列成熟的功能基础上，新的Helios 5 DualBeam有了更多的改进，以确保该系统对各种手动或自动工作流程进行优化。这些改进包括： -更加易于使用：Helios 5 DualBeam是最容易为各种经验水平的用户所接受的DualBeam。操作员培训可能从几个月缩短到几天，系统设计正在帮助所有操作员在各种高级应用中取得一致的、可重复的结果。 -提高生产力：Helios 5 DualBeam和Thermo Scientific AutoTEM 5软件的先进自动化能力、更强的坚固性和稳定性增强，可以在无人值守甚至通宵操作的情况下大幅提高样品制备的产量。