SEM显微镜 Phenom ParticleX AM

用于分析测量质量控制

用于增材制造分析的台式扫描电镜，能够观察到100毫米×100毫米的大样品。 增材制造分析 Thermo Scientific Phenom ParticleX桌面扫描电子显微镜（SEM）是一款为增材制造设计的多用途桌面扫描电子显微镜，在微观层面上提供纯度。 它配备的腔体大到足以分析100毫米×100毫米的样品。专利的通风和装载机制确保了世界上最快的通风/装载周期，提供了最高的产量。 使用Phenom ParticleX AM台式扫描电镜，你可以对你的数据进行内部控制： -监测金属粉末的关键特性 -加强你的粉床和粉料添加制造工艺 -识别粒度分布、单个颗粒形态和外来颗粒 Phenom ParticleX AM Desktop SEM的特点 SEM颗粒分析 Phenom ParticleX AM台式扫描电镜的特点是具有精确和快速的电动平台，可以分析高达100mm x 100mm的样品。即使有这么大的样品尺寸，专有的装载梭将通风/装载周期保持在60秒或更短的行业领先的装载时间，最终提供比其他SEM系统更快的产量。 增材制造测试 Phenom ParticleX AM Desktop SEM测量各种尺寸和形状参数，如最小和最大直径、周长、纵横比、粗糙度和铁口直径。所有这些都可以用10%、50%或90%的值来显示（即d10、d50、d90）。