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电池显微镜 Phenom ParticleX
SEM用于分析质量控制

电池显微镜 - Phenom ParticleX - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - SEM / 用于分析 / 质量控制
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产品规格型号

分类
SEM
专业应用类型
用于分析, 质量控制, 用于材料分析, 电池
配置
台式, 小型
探测器类型
二次电子, 背向散射电子
其他特性
高解析度, 自动化
倍率

最少: 160 unit

最多: 200,000 unit

空间分辨率

最少: 0 nm

最多: 10 nm

产品介绍

用于电池生产和研究的台式扫描电子显微镜。 先进的电池材料分析 为电池材料分析而设计的Phenom台式扫描电子显微镜 在电池生产和研究中,材料的质量正变得至关重要。例如,NCM粉末中的小污染物会对最终产品产生灾难性的结果。为了有效追踪这些污染物,需要高分辨率的SEM成像与EDS化学分析。当完全自动化时,这种组合是粉末质量检测的有力工具。 Phenom ParticleX Battery Desktop SEM的主要特点 电导率分类 每个颗粒类别都可以标明颗粒的电导率,使你可以根据颗粒的电导率进行分类。这使你能更准确地评估污染的影响,因为一个小的有机污染不像金属导电污染那样严重。 三元图 为了查看颗粒群的整体化学性质,可以生成一个代表所有颗粒的三元图。镍、钴和锰在每个轴上,可以立即看到早期和一般趋势。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。