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FIB/SEM显微镜
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产品规格型号
分类
FIB/SEM
专业应用类型
实验室
产品介绍
为您的TEM准备低温薄片的另一种解决方案。 - 灵活的低温FIB-SEM工作站,适用于低温条件下最苛刻的应用 - 优化的低温TEM层压冷冻标本的无伪影平面网状层压片工作流程 - 与市场上所有的低温TEM兼容的解决方案 - 在极低电压下的卓越的SEM成像性能 - 低温用户账户,并定义了DrawBeam™项目,专门用于您的低温操作。 - 便于导航,包括扩展视场、双摄像头和3D主动碰撞模型。 - 易于使用、完全可定制、面向应用和模块化的用户接口 - 吸引人的选装包,适用于各种应用
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此为机器翻译文本。 (查看英文原文)
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