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FIB/SEM显微镜 AMBER用于分析用于材料研究高精度
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产品规格型号
- 分类
- FIB/SEM
- 专业应用类型
- 用于分析, 用于材料研究
- 其他特性
- 高精度, 超高解析度
产品介绍
多功能纳米分析FIB-SEM，扩展您的材料研究能力。
- 高精度的微型样品制备
- 超高分辨率无场扫描电镜成像和纳米分析
- 视野范围扩大，导航方便
- 多站点过程自动化
- 多模态FIB-SEM断层扫描技术
- 易于使用的模块化软件用户界面
- 吸引人的选装包，适用于各种应用
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