Gen-Z 是一种数据访问技术,旨在通过直接连接、交换或结构拓扑提供对数据和设备的高速、低延迟、内存访问。 Gen-Z 组件使用低延迟读写操作来直接访问数据,并使用各种高级操作来移动数据,而应用程序或处理器参与最少。 Gen-Z 结构利用内存语言通信在不同组件上的内存之间以最小的应用程序或是处理过程。 内存语言通信非常高效和简单,这对于提供最佳性能和功耗至关重要。 Teledyne LeCroy 提供协议分析和错误注入测试设备,以支持基于 Gen-Z 的设备的开发和调试
Summit M5x 协议分析仪/错误注入器 Summit M5x 是Teledyne LeCroy的 PCIe/NVMe 错误注入器解决方案,是针对基于高速 PCI Express 5.0 I/O 应用(如工作站、桌面、图形、存储和网卡应用)的最新协议分析仪。
PXP-400A 测试平台 Teledyne LeCroy PXP-400A 测试平台提供了一种简便的方法来测试带有独立AIC卡和供电无源背板的 PCIe 4.0 附加卡。 PXP-400A 为两个被测卡提供所需的电源,并且可以使用内插器连接到协议分析仪。
PXP-500A 测试平台 Teledyne LeCroy PXP-500A 测试平台提供了一种简便的方法来测试带有独立AIC卡和供电无源背板的 PCIe 5.0 附加卡。 PXP-500A 为两个被测卡提供所需的电源,并且可以使用单独的内插器连接到协议分析仪。