测量探头 TBPS01
近场CEM

测量探头 - TBPS01 - TEKBOX - 近场 / CEM
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产品规格型号

类型
测量
物理量
近场
其他特性
CEM

产品介绍

近场探头无疑是调试电磁兼容问题的最有效工具。近场探头用于定位射频辐射源以及易受射频影响的电路。在选择 EMC 预合规性测试设备时,近场探头应放在首位。 探头通常与频谱分析仪相连,功能类似于宽带天线。用探头扫描印刷电路板组件的表面、外壳开孔或缝隙、电缆和产品的任何其他组件,可快速确定发出电磁辐射的区域。如果换用更小的探头,还能进一步缩小辐射源的范围。 射频抗扰度测试也可以通过向探头注入射频信号并将其辐射到可能易受攻击的电路部分来进行:此外,通过非接触式监测射频信号电平,探头还可用于维修或调试领域,以追踪射频信号链中的故障。另一项应用是对调制器或振荡器等射频构件进行非侵入式测量。低噪声前置放大器可用于测量频率、相位噪声和频谱成分。 TBPS01 套件包括磁场探头 H20、H10 和 H5,以及电场探头 E5 和同轴电缆及适配器,可与带 N 或 SMA 接头的频谱分析仪配合使用。TBPS01-TBWA/20dB 和 TBPS01-TBWA2/40dB 系列增加了 6GHz 宽带前置放大器。 TBWA2/20dB 和 TBWA2/40db 宽带放大器连接在探头和频谱分析仪之间,以增加测量的动态范围,尤其是在较低频率时。

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