使用 LMK 插件 “像素串扰”(“像素覆盖”)可以测量显示眼镜的质量。 它用于表征抗眩光涂层造成的图像清晰度损失。 使用 LMK,可以结合宏观镜头评估显示器中产生的散射光。 测量和评估的基础是文章 “像素串扰:用于表征显示器眼镜的 AG 处理引起的 DOI 损失的新指标” 冯 · 托马斯 · 芬克 und Udo Krüger。
在测量过程中,首先记录图像,其中所有像素都切换为深色。 此图像稍后可用于校正无关光和像素变暗时残余光的影响。
随后,单个像素以红色、绿色、蓝色和白色打开,并分别记录图像。 在这些图像中,使用深色图像进行校正后,将搜索发光像素的位置,并确定测量区域。
使用记录的亮度图像,Labsoft 自动计算红色、绿色、蓝色和白色像素的水平和垂直 PCT 值
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