用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪
泰勒•霍普森 的 PGI Freeform(相位光栅干涉)是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪,用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。
灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统
全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统,适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。
能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析:
•球面
•非球面
•衍射面
•自由曲面
PGI Freeform可与最新的用于定义自由曲面的方程式相兼容,测量多种多样的自由曲面, 比如:
•双环曲面
•双圆锥面
•变形非球面
•椭球面
•NURBS曲面
•Zernike曲面
•点云曲面
测量的整体性与重复能力
泰勒•霍普森PGI Freeform数十年的测量经验积累、超精密加工专业知识与有限元分析(FEA)优化设计相结合,可加工出低噪音、近乎完美的机械轴。
全新的软件操作界面,设置简单,可进行自由曲面的高精度分析。功能强大的PGI Freeform使其称为光学零件分析测量的首选。