台式电导仪 EddyCus® TF map 2525RM

EddyCus® TF map 2525RM - 电导率测绘和薄膜中的缺陷识别 各种各样的材料特性决定了材料的导电性。除其成分外，其结构和纯度也会影响到电导率。EddyCus® TF map 2525RM是一个涡流测绘系统，专门用于对电导率和相关特性进行高分辨率成像，暴露材料特性、影响和缺陷。该系统可以配备各种EddyCus传感器，用于高分辨率的电导率成像或高渗透率和使用差分探头的缺陷检测。该系统支持以100微米到10毫米的测量间距创建表面的图像（涡流C-扫描）。这个三轴系统能够扫描二维和2.5维区域，尺寸可达250 x 250毫米/10 x 10英寸。典型的应用包括导电材料的表面特征，如SiC、石墨、金属、合金或钢板或其他导电半成品。此外，该系统还可用于测试印刷电子产品和层的电气完整性。 涡流测试可以量化材料的电导率[IACS或MS/m]或电阻率[Ohm m或Ohm/mm²/m]。材料的电导率提供了关于材料特性的信息，如材料的类型和材料组成的均匀性。除了关于电性能的直接信息外，电导率还包含与其热性能或其机械性能和结构完整性有关的信息。