X射线衍射仪 Xstress G3

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X射线衍射应力仪Xstress G3具有可修改的運動，可進入受限空間和複雜的幾何形狀。設計和結構的進步提高了真正可擕式殘餘應力和殘餘奧氏體分析儀的可靠性和功能 • 無損的 • 適用於實驗室、工廠和現場使用 • 快速組裝，10分鐘後即可使用 • 易於更換x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳)，可測量不同的材料 • 三個標準測量距離: 50、75和100毫米 • 兩個NMOS位置敏感探測器 • 暫態可調2θ角 • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選) • d-sin²χ 和ω測量模式作為標準 特征 • 兩個對稱定位的NMOS位置敏感探測器 • 標準探測器寬度30 • 有關其他檢測器，請參見選項/li> • 2θ-探測器範圍 • 在110° 至165°範圍內連續可調 • 帶有特殊檢測弧的較低角度選項 • 標準測量距離50/75/100毫米 • 可更換准直器 • 1/2/3/4/5 mm光斑尺寸的短准直器和長准直器 • 可選特殊准直器