X射线衍射仪 Xstress G2R

实验室便携式

X射线衍射应力仪Xstress G2R代表了設計和結構的進步，它在真正可擕式殘餘應力和殘餘奧氏體分析儀中提供了增強的可靠性和功能。利用旋轉衍射儀，雙軸和三軸應力狀態分析變得輕鬆和自動化。 無損的 • 適用於實驗室、工廠和現場使用 • 旋轉衍射儀支援雙軸和三軸應力狀態分析 • 快速組裝，10分鐘後即可使用 • 易於更換x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳)，可測量不同的材料 • 測量距離50毫米 • 兩個NMOS位置敏感探測器 • 暫態可調2θ角 • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選) • d-sin²χ 和ω測量模式作為標準 特徵 • 兩個對稱定位的NMOS位置敏感探測器 • 標準探測器寬度15 • 有關其他檢測器，請參見選項 • 2θ-探測器範圍 • 在110° 至165°範圍內連續可調 • 帶有特殊檢測弧的較低角度選項 • 標準測量距離50毫米 • 可更換准直器 • 1/2/3/4/5 mm光斑尺寸 • 可選特殊准直器