用于半导体的XYZ双检测门户
可定制的
- 是自动检测晶圆/半导体的理想选择
- 非常大的移动范围,每个都是2 x 720 x 720 x 100 mm
- 允许同时整合两个过程
该检测系统由四个洁净室轴组成,可同时对多个物体进行自动测量。实现了高动态性和最高的可重复性。每侧有一个高分辨率的相机或传感器相对于样品移动,以检查几何形状,进行测量并记录特殊的质量特征。
规格
- 行程:2 x 720 x 720 x 100 mm
- 2个X轴,每个轴用于扫描器/显微镜,最大重量为25公斤
- 2个Y轴,每个用于卡盘,最大23公斤/晶圆,最大12英寸/300毫米
- 重复性:1.5 - ± 0.3 µm
- 速度:750 - 1500毫米(XY)/150 - 300(Z)。
- 最大负荷:150 N (XY) / 200 N (Z)
- 驱动:直线电机(无铁),导轨(XY),滚珠螺杆,交流伺服(Z)。
- 反馈:直线光栅,电机编码器
- 运动控制器:FMC-250/280,ACS,PLC集成
- 洁净室等级:ISO 2级
定制的选项:
- 过程适应性,样品架,头/传感器
- 洁净室ISO 14644-1的版本(按要求可达到1级)。
- 机架、振动隔离、外壳、安全概念
- 吸入和循环带盖的连接
- XYZ-Rx-Ry-Rz运动的自由度扩展
- 通过三维设计为定位任务寻找个性化解决方案
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