直径测量系统 EMP II

直接接触自动用于控制

创新的EMP II可以测试0级、1级和2级量块。它的测量范围在0.5到100毫米之间，分辨率为0.01µm，总是很精确。 系统描述。 通过在当地设置EMP 2，可以减少对测量结果的热影响，EMP 2由一个带有定位和测量单元的重型铸造底座、一个电机开关单元和PU 23接口单元组成。与至少比它好一个等级的测量块进行比较。极其精确的机械装置将测量头定位在样品上，保证了测量结果的高度可重复性，因此可以快速、可靠地校准您的量块。测试是根据DIN EN 3650标准进行的，并符合DAkkS要求。可选的测量、记录和管理软件会自动处理PU23接口单元的所有测量结果，并确保对您的测量块进行完整的记录。 技术数据 - 应用范围 0,5 - 100 mm - 分辨率 0,01 µm - 测量不确定性（长度差D≤10 µm） 0,03 µm + 0,002 * D 优点 - 半自动测量，使用开关门定义测量点 - 本地设置，用于热解耦 - 两个相对位置的编码器用于差分测量 - 与测量块参考值进行比较测量 - 移动到测量点时，自动提升测量块 - 测量值的高可重复性 - 通过安全的单手操作实现快速测量，快速记录测量数据 - 所有测量值自动传输到下游软件（例如：QMSOFT）。 - 超重设计，采用门式设计的铸造机身