表面检查光学系统 ABIS II

ABIS II -在生产过程期间的瑕疵公认 可能发生在生产过程期间的多数瑕疵是无形的在制造早期。 当随后工作步骤例如油漆工作完成了时，然而这些周详表面损坏稍后变得视觉上可认识。 使用昂贵的改正措施，那时及时，他们可能只被补救。 要达到高表面质量在费用优化之下的方面，需要查出各种各样的瑕疵类型。 与客观评估和故障分类结合的可靠和早检测，例如凹痕，爆沸、缩痕、波状、收缩、镇压等等，是必要的，因为去除这些瑕疵的费用激烈地增加与工作进程在生产周期(新闻商店、修理厂、油漆行，定形结构)之内的。 结果，被繁殖了在生产过程中瑕疵特殊的重做构成一个坚固因素关于人力和时间。 它因而有对制造过程的经济效率的可观的影响。 即ABIS II有不同的版本，并且系统概念允许快速，可靠，并且不仅3D超准确侦查在被检查的部分的一个光学传感器系统(凹痕、爆沸、缩痕、波状、收缩或者镇压)背叛，而且对比敏感瑕疵(即scrat¬ches、黏着性残滓、尘土和土)使用新的对比传感器升级。 可以高效率地减少在随后处理步的费时和因而昂贵的re¬work，即在结束传送带。