错位散斑干涉法检测仪 ISIS

错位散斑干涉法检测仪 - ISIS - Steinbichler Optotechnik
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产品规格型号

应用
错位散斑干涉法

产品介绍

剪切技术是激光测量方法,并衍生出传统的电子干涉散斑测量方法(ESPI)。 Shearography 的这种适应性使得能够在非振动隔离条件下进行现场使用,同时享受激光剪切技术为 30nm 外面(z 方向)的最终用户提供的高测量灵敏度。 测量程序: 剪切传感器用激光二极管发射的斑点激光光照亮表面。 激光光的反射将表面信息传送到观测 CCD 摄像机。 剪切法始终需要参考图像和组件的加载图像才能获得测量结果。 暴露在载荷(热脉冲、真空等)下,检测的材料显示局部变形(加载图像)。 从加载图像中减去参考。 局部缺陷显示暴露于负载下的行为与其周围的健康区域不同。 由于剪切成像是一种带有剪切物体光束的差分测量方法,可确保系统在现场使用的稳定性。 不是检测缺陷的变形,而是检测变形的梯度。 因此,典型的剪切缺陷图像显示了以下动画中看到的蝴蝶缺陷。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。