激光干涉仪 µLine 20
用于平面度测量校准用于三维测量机

激光干涉仪 - µLine 20 - Status Pro Maschinenmesstechnik GmbH - 用于平面度测量 / 校准 / 用于三维测量机
激光干涉仪 - µLine 20 - Status Pro Maschinenmesstechnik GmbH - 用于平面度测量 / 校准 / 用于三维测量机
激光干涉仪 - µLine 20 - Status Pro Maschinenmesstechnik GmbH - 用于平面度测量 / 校准 / 用于三维测量机 - 图像 - 2
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产品规格型号

应用
用于平面度测量, 校准, 用于三维测量机, 用于平行度测量, 垂直度, 平直度, 振动测量
技术参数
激光, 紧凑型

产品介绍

µLine® - 激光干涉仪测量系统 激光干涉仪测量系统的特点: 激光干涉仪中内置补偿单元 易编程的输入和输出端 温度、气压和湿度传感器与激光干涉仪之间是无线通信 测量速度高达6m/s 设计紧凑,便于携带 (携带箱尺寸:350 x 200 x 250mm) 二维90°角度器 (精度:5µm/m) 三维90°角度器 (精度:5µm/m – 同样适用于直线度激光测量系统)

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。