实验室微量天平 QCM200

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QCM200 石英晶体微天平可测量表面或表面附近或薄膜内过程的质量和粘度。该系统包括一个控制器、晶体振荡器电子元件、晶体支架、三块石英晶体和 Windows 软件。 仪器读取 5 MHz AT 切割石英晶体的谐振频率和电阻。谐振频率的变化是晶体表面沉积材料质量的线性函数。共振时的电阻随与晶体表面接触的材料（薄膜或液体）的粘度/弹性而变化。 作为重力测量仪器，QCM200 可以测量从微克到零点几纳米的质量。检测极限相当于亚单层原子。可轻松观察构象变化，如相变、膨胀和交联。 该仪器专为处理重负荷（高达 5 kΩ）而设计，可用于有损薄膜和高粘度液体。 QCM200 是一款独立仪器，内置频率计和电阻计。可测量和显示串联谐振频率和电阻，还有一个与频率成比例的模拟输出，可用于连接恒电位仪。QCM200 可通过前面板或使用 RS-232 接口的 PC 进行操作。Windows 软件可用于实时数据采集、显示、分析和存储。可查看频率和电阻趋势。提供的用户标签可对重要事件进行时间标记。