电性能测量仪器 Materials Lab XM

电电压电流

材料实验室 XM 是特定应用的 XM（Xtreme 测量）产品，主要专注于材料研究。 材料实验室 XM 产品提供了一个完全集成的参考级时域和交流测量平台。 无需在技术之间切换示例连接。 时域测量包括 I-V（电流电压）表征以及快速脉冲技术。 交流测试技术包括单正弦分析、多正弦/快速傅里叶变换以实现更快的低频分析、谐波和互调用于测试材料线性度和分解的材料。 XM-Studio MTS 软件平台提供电阻抗谱 (EIS)、导电率、电容测量，以及集成等效电路分析功能。 时域和交流测试可以组合在测试序列中，并立即切换，允许直流和脉冲波形激活充电载体，然后立即对激活载体进行 EIS 分析。 这种紧密相连的集成仅与材料实验室 XM 进行。 测量结果包括： -I-V（通过电流测量进行电压扫描-用于表征电子和介质材料） -P-E（偏振/电场-用于运行磁滞测试以表征铁电材料） -高速脉冲（用于激活电荷载载体 电子和介质材料） -楼梯和平滑无级模拟斜坡波形 -阻抗、导入、电容/电容、电模量 -C-V 电容-电压、Mott-Schottky