弹性触点测试座 Levan

QFN

Levan 弹性插座系列是专为精确测试而设计的。Levan 弹性网格具有导电柱，可确保各种设备获得准确一致的测试结果。弹性网格中的导电柱可确保各种设备获得准确一致的测试结果。它的高带宽和低电感能力使其在测试系统中不可见，从而避免了球对被测设备（DUT）的损坏，并提供了无与伦比的电气和机械优势。Levan 提升了从工程要求到大批量生产的测试标准，确保了多功能性和成本效益。它是适用于 BGA、LGA、QFN 和其他变体的绝佳测试解决方案。 产品特点 - 适用于 BGA、LGA、QFN 和其他变体的解决方案 - 射频带宽 > 23-108 GHz @ -1dB IL - 短信号路径 ≤ 0.9 mm - 能够实现阻抗匹配信号 - 持续稳定的接触电阻 - 低电感 - 基于测试应用的优化设计 - 三温区插座设计，支持 -55 °C 至 +160 °C - 专为使用同一插座进行手动测试、台架测试和 HVM 生产测试而设计 优势 - 设计适应性强，满足要求 - 电气透明信号 - 匹配阻抗 - 卓越的直流性能 - 应用匹配可提高产量和产品寿命 - 清洗方便简单