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研磨测试座 QN-Series

研磨测试座
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产品规格型号

技术参数
研磨

产品介绍

Smiths Interconnect 在为 MLF、BCC 和 LPCC 等最新 QFN 封装设计和开发插座解决方案方面发挥了领导作用。这些插座采用模块化设计,外形小巧,电感极低。新型开顶式 QFN 插座与带盖版本的大多数引脚数选项相同,可以更方便地装卸封装。 特性和优势 - 提供 0.40 毫米、0.50 毫米、0.65 毫米、0.80 毫米和 1.00 毫米间距 - 定制间距小至 0.30 毫米 - 用于 ≤10 mm 封装的带盖和开顶插座 - 用于 10 毫米至 16 毫米封装的带盖插座 - 所有插座均标配中心接地引脚 - 可为高功率器件选配铜散热片 - 适用于 80 多种不同 JEDEC 标准基底面的插座 特性 机械性能 - 触点单梁/固定 - 安装通孔 - 插入:ZIFZIF - 接触力通常为 15 ±4gf - 工作温度:-45ºC 至 +150ºC - 负载循环:10,000 次(预烧);50,000 次(编程) 电气特性 - 接触电阻<50 mΩ - 电感:<6 nH<6 nH - 电容: <2.59 pF<2.59 pF - 额定电流 1.0 安培 - 体积电阻率:1x10^15 Ω -cm 绝缘电阻:650 V / mil

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展厅

该卖家将出席以下展会

Compamed
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11-14 11月 2024 D&#252;sseldorf (德国) 展台 8BK03

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    Electronica 2024
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    12-15 11月 2024 M&#252;nchen (德国) 展会 A2 - 展台 421

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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。