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WLCSP测试座 Volta series

WLCSP测试座 - Volta series - Smiths Interconnect/史密斯英特康
WLCSP测试座 - Volta series - Smiths Interconnect/史密斯英特康
WLCSP测试座 - Volta series - Smiths Interconnect/史密斯英特康 - 图像 - 2
WLCSP测试座 - Volta series - Smiths Interconnect/史密斯英特康 - 图像 - 3
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产品规格型号

技术参数
WLCSP

产品介绍

Smiths Interconnect 浮动弹簧探头设计提供的独特精度允许在测试晶圆级芯片秤封装时无缝部署。 我们与客户密切合作,开发接触器,作为探头代替悬臂式和传统的垂直探针卡技术。 史密斯互连为每种类型的设备和探测器创造了数千个探头头。 在此过程中,我们创建了 WLCSP 优化的弹簧接触探头系列,即 Volta 系列。 可靠的射频信号完整性 出色的合规性和接触力 易于维护

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展厅

该卖家将出席以下展会

SEMICON CHINA

26-28 3月 2025 Shanghai (中国大陆)

  • 更多信息
    HANNOVER MESSE 2025
    HANNOVER MESSE 2025

    31 3月 - 04 4月 2025 Hannover (德国)

  • 更多信息
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    * 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。