EDX2000A 全自动微区膜厚分析仪是天睿公司专门开发的一款顶级照度膜厚测试仪。
最能体现其多年的 XRF 膜厚测量技术。与传统的镀层厚度分析仪相比,它不仅在传统电镀上表现更为出色,而且更能满足半导体、芯片、PCB 等行业对非接触式微区镀层厚度测试的需求。仪器外形美观大方,触感简洁。通过平台沿 X、Y 和 Z 轴的自动三维移动、双激光定位和安全保护系统,可实现对平面、凹凸面、拐角面和圆弧面等各种简单和复杂样品的快速聚焦和精确分析。
应用领域
电镀行业
电子通讯
汽车制造
磁性材料
航空航天新能源
五金和卫生洁具
电气设备
贵金属电镀
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