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形状测量参考块

形状测量参考块 - SIUI(Shantou Institute of Ultrasonic Instruments)
形状测量参考块 - SIUI(Shantou Institute of Ultrasonic Instruments)
形状测量参考块 - SIUI(Shantou Institute of Ultrasonic Instruments) - 图像 - 2
形状测量参考块 - SIUI(Shantou Institute of Ultrasonic Instruments) - 图像 - 3
形状测量参考块 - SIUI(Shantou Institute of Ultrasonic Instruments) - 图像 - 4
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产品规格型号

技术参数
形状测量

产品介绍

- 4/5 步街区 规格 ASTM E797 校准功能: 直光束:厚度和线性度校准、厚度测量。 - 1 号校准块(V1) 规格:ISO2400-2012 ISO2400-2012 校准功能: 校准剪切波和压缩波探头。校准时基和增益设置。 *我们可提供基于 ISO2400-2012、BS2704、ASTM E164、ISO2400-1972E、AWS D1.1/D1.1M 和 AS 2083 的 V1 校准块。 - 2 号校准块(V2) 规格: ISO7963:2010 校准功能: 小型校准块,用于现场检查微型剪切波探头的指数、时基、波束角和增益,刻有 35 至 75 度的参考标记。 *我们可提供基于 BS2704 和 ISO 7963 的 V2 校准块。 - 3 号校准块(V3) 校准功能: 用于在实验室和现场条件下校准超声波探伤设备。该校准块可作为 V1 或 IIW 型测试块的替代品,结构更紧凑,重量更轻。包括 25 毫米、50 毫米和 100 毫米半径、(2)个直径 3.0 毫米的通孔、刻有参考标记的刻度和一个 0.4 毫米宽 * 2.5 毫米深的槽。 - 相控阵测试块 A 型 规格: ASTME2491-2013 校准功能: 相控阵 "A 型 "校准块用于相控阵超声波装置的初始设置和校准。它可用于执行诸如波束角度验证、楔形延迟校准、灵敏度校准、执行厚度达 50 毫米的 DAC/TCG 和裂纹尺寸等任务。

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。