激光校准器 EPP series

高精度

高精度量块校准系统 - 使用两个对准的测头进行测量 - LM 20 激光干涉仪测头确保了高测量精度和线性度 - 校准 122 块量块组只需 15 块标准量块 - 重新校准工作量小，节省成本 - 用户指导测量顺序，节省测量时间 - 可校准特殊的公称尺寸和材料 - 整个测量范围内线性度高 - 在整个测量范围内探头测量力恒定 - 校正试样和正常温度 - 材料温度传感器（可选 4 个） - Windows 电脑软件 用于校准量块的 EPP 量块校准系统使用 LM 20 激光干涉仪作为上部测量探头。它的测量范围为 20 毫米，分辨率为 1 纳米。根据布伦瑞克物理技术研究所的测定，在量块校准过程中，该探头的测量误差小于 10 nm。这意味着，根据德国联邦物理技术研究院的建议，122 个量块组所需的标准量块数量可减少到 15 个。 通过校准程序，可以确定并纠正量块测试仪的线性误差（偏差、探头倾斜、温度影响）。量块测试站的舒适操作以及测量值的校正、评估和输出均可通过 PC 机上的软件 "InfasGAUGE"（并行量块校准）完成。