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侦察光学系统 Pat-Genius
用于 1D 条形码读取用于 2D 矩阵码读取

侦察光学系统 - Pat-Genius - Siemens Industrial Identification and Locating - 用于 1D 条形码读取 / 用于 2D 矩阵码读取
侦察光学系统 - Pat-Genius - Siemens Industrial Identification and Locating - 用于 1D 条形码读取 / 用于 2D 矩阵码读取
侦察光学系统 - Pat-Genius - Siemens Industrial Identification and Locating - 用于 1D 条形码读取 / 用于 2D 矩阵码读取 - 图像 - 2
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产品规格型号

技术参数
侦察, 用于 1D 条形码读取, 用于 2D 矩阵码读取

产品介绍

用于 SIMATIC MV440 的 "Pat-Genius "许可证 有了 "Pat-Genius",SIMATIC MV440 还可用于物体和位置检测。它还可用于读取一维/二维码或纯文本。读取和比较纯文本和机器可读代码的所有功能都可以在一个图像区域内自由组合。"Pat-Genius 与 Pick&...ce 一起用于生产质量控制、喂料技术中的位置检测以及喂料技术和生产中的数量监控。许可证以 "单个许可证 "的形式通过 USB 闪存介质提供,并可通过 SIMATIC Automation License Manager (ALM) 插件加载到设备上。许可证可在固件版本为 6.0 的任何 SIMATIC MV440 上运行。 功能 物体识别用于搜索和识别图像中经过训练的图案: 物体识别(分类) 位置检测(位置、旋转位置、缩放) 存在验证(对象识别和位置控制,带设定点规范) 完整性检查(通过设定点规格进行多重存在验证) 符号识别(识别任何字符或符号的轮廓)

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* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。