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恒温试验箱 STS-PCIE-HTAC-200PC温度CEM分析
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产品规格型号
- 类型
- 恒温
- 受控参数
- 温度
- 测试类型
- CEM, 分析, 老化
- 应用产品
- 用于电子卡片, 用于半导体, 航空电子设备
- 其他特性
- 高温
- 容量
404 l
(107 gal)- 温度
最少: 15 °C
(59 °F)最多: 100 °C
(212 °F)- 长度
1,700 mm
(66.93 in)- 宽度
1,130 mm
(44.5 in)- 深度
700 mm
(28 in)
产品介绍
固态硬盘制造商迫切需要一个测试系统，能够将固态硬盘作为标准的通用驱动器进行测试，但也能测试独特的固态硬盘故障模式和底层固态技术的属性。
整个测试系统的功能
1.支持SATA量产测试件的定制，如200件。
2.支持（RT+15℃～100℃）测试
3.支持非正常断电测试和老化测试
4.支持自动温控测试
5.支持所有使用软件的智能控制测试
6.支持测试软件的定制
7.支持箱内风速和温度的平衡
8.支持快速加热和冷却控制
9.支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制研发
10.支持网络控制，可以在不同地方控制测试并查看测试结果
11.支持APP远程控制测试
测试软件的四个主要功能。
1.SATA协议测试
2.行业标准测试
3.研发回归测试
4.误差注入测试
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