固定式测厚仪 SK-tFTM-IR series

用于膜用于板材光谱反射率

红外线片材厚度监测仪测量半透明片材的厚度，如电池隔膜、低反射涂层，如黑色抗蚀剂和硅。它可以用于从实验室水平到生产中的在线100%检测的所有应用。红外吸收系统由一个紧凑的镜面探头和一个透射式光学系统组成，可以同时测量多个参数，如100多个波长的薄膜厚度、密度和成分。 1 测量半透明片、低反射膜、硅等的厚度，这在光学干涉仪中是很难做到的 2 紧凑的探头 通过采用一个30毫米的小反射探头，它可以安装在设备或生产线的小空间里。此外，由于探头只用一根光缆与主体连接，因此具有良好的耐环境性。 3 高速测量 在100个点或更多的地方同时对950纳米至1650纳米的近红外波长进行采样 4 厚度测量重现性0.1%或更低（3σ） 5 测量算法