DF-745采用业内先进的可调谐激光二极管 (TDL) 技术,可用于LED/LCD制造过程中超高纯 (UHP) 电子工业级气体检测应用的微量级和超微量级水分测量。
DF-745用于LED/LCD制造过程中的微量级和超微量级水分污染物测量,可以监测多种背景气体,在紧凑的空间内提供了优异的性能和灵活性。
该款分析仪采用坚固耐用的智能软硬件设计,便于携带,几乎不需要此类应用中常见的干燥时间。
DF-745具有十亿分之1 (ppb) 的低检测限 (LDL),可提供超可靠的基准测量性能和快速响应。坚固耐用的Herriott测量池尽可能避免了水分和光学器件的接触,可以避免出现镜面反射率损耗,从而确保准确的测量结果。零漂移特性有助于延长标定间隔并减少后续维护,从而实现更低的持有成本。
靈活的TDL跡線和超跡線測量
現代LCD和LED製造工藝要求
超痕量質量測量,用於高純度電子級氣體中的水分污染物。在這樣的特定應用中,用戶需要能夠在多種背景氣體中提供高精度和超低檢測限的分析。無論應用程序要求有多具體,您都需要一種能夠有效降低持續成本的設備,以期實現長期且具有成本效益的所有權。我們認為您不必妥協。
絕不妥協的解決方案
DF-745利用先進的Servomex可調諧二極管激光器(TDL)感應技術,該技術安裝在堅固的Herriot單元中,可提供快速,準確的痕量水分測量,檢出限低至1ppb。 TDL的測量穩定性意味著DF-745的漂移為零,並且可以在煩人的應用中快速恢復。通過緊湊的尺寸優化了應用程序的靈活性,使端口到端口的移動性變得簡單。
維護簡單,降低了運行成本
經過驗證的傳感技術和先進的功能為DF-745用戶提供了較低的終身擁有成本。工廠預校準有助於快速簡便地安裝。使用具有零漂移電位的高穩定性TDL傳感器,可以延長校準間隔並更大程度地減少日常維護需求,從而在較長的產品使用壽命內實現可觀的節省。