光学轮廓测量仪 S wide
3D用于大型零件工业

光学轮廓测量仪 - S wide - Sensofar Metrology - 3D / 用于大型零件 / 工业
光学轮廓测量仪 - S wide - Sensofar Metrology - 3D / 用于大型零件 / 工业
光学轮廓测量仪 - S wide - Sensofar Metrology - 3D / 用于大型零件 / 工业 - 图像 - 2
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产品规格型号

所用技术
光学, 3D
应用
用于大型零件
技术参数
工业
配置
台式
其他特性
高速

产品介绍

S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 - 先进制造业 - 考古学与古生物学 - 消费类电子产品 - 医疗设备 - 模塑 - 光学 - 钟表业
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。