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光学轮廓测量仪
S wide
3D
用于大型零件
工业
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产品规格型号
所用技术
光学, 3D
应用
用于大型零件
技术参数
工业
配置
台式
其他特性
高速
产品介绍
S wide 是专用系统,适用于快速测量大样品区域,测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能,易于使用。 解决方案 大面积 3D 光学测量系统 - 先进制造业 - 考古学与古生物学 - 消费类电子产品 - 医疗设备 - 模塑 - 光学 - 钟表业
PDF产品目录
S wide
4 页
Leaflet S wide sensor
1 页
Integrable metrology solutions
36 页
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