电子显微镜 FOCUS PEEM

实验室模块化实时

表面敏感显微镜 20 纳米侧向分辨率 局部光谱 K 空间成像 易于操作 与 MULTIPROBE 超高压系统兼容 A F OCUS 产品光发射电子显微镜 (PEEM) 是一种非常强大的成像技术, 其多功能性用于地形, 高分辨率的化学和磁造影成像已在许多实验室和同步加速器应用中得到证明. 对磁性器件表征、等离子体研究、表面化学和高侧分辨率化学分析结合同步加速器辐射、时间分辨过程调查和 k 空间成像等重要贡献仅是基于 PEEM 的几个实例。 研究。 与扫描电子显微镜 (SEM) 相反，PEEM 直接实时图像发射光电子的表面区域，无需扫描。 表面的电子发射可以通过各种方式引起-光子辐照激励, 热能, 电子/离子轰击或现场发射. 多年来，Focus-PEEM 在性能和可用性方面不断得到改进。 PEEM 与专用高稳定性集成样品台 (IS) 和各种可用的能量过滤器遵循易于升级的模块化概念。 此外，软件辅助操作可确保即使在具有挑战性的样品上也能实现高效且安全的 PEEM 操作。 FOCUS IS-PEEM 在市场上拥有超过 50 个单元，是一款强大的表面分析工具。