光谱分析仪 DA20

集成式紧凑型2D

20 度全锥接受无需样品旋转即可 快速获得专利的电子偏转 (WO2013/133739) 通 过保持样品固定 可避免矩阵元素效应确保所有 k// 机械手要求相同的斑点尺寸和形状降低 DA20 提供 ARPES 和 XPS和 UPS，同时保持紧凑的占地面积。 DA20 采用了突破性的专利偏转技术，此前仅在更大的 DA30 中使用，可实现全锥 ARPES 测量，无需进行样品旋转。 传统的 ARPES 分析仪具有一个角模式，仅限于角色散体方向，从而在二维检测器上产生角度 σx 和能量 E 的二维强度图像。 在这种设置中，获得完整的锥体测量值需要对样品进行物理旋转以探测 σy 角度空间。 这种物理运动可以在 ARPES 测量中引入多个伪像。 一阶问题包括在样品移动时测量样品的不同区域。 当入射角和出口角发生变化时，也引入了矩阵效应，影响角度相关的电子逃逸。 我们的分析仪通过在 σy 方向上使用内部偏转模式来克服这些限制。 在这种偏转模式下，镜头系统会将单个的 σx 切片投影到分析器缝隙，以获得给定的 σy 角度。 因此，半球分析仪检测器测量了 σx vs E 光谱的切片。 记录这些单独的切片，同时改变 σy 导流体角度，构建一个包含所有 σx、σy、E 值强度的可靠数据的立方体。