分光光度计软件 Total F+

管理静态分析接口

Total Color F+是一款分光光度测量软件，可分析和模拟真空镀膜生产的光学薄膜，以验证内部AR（抗反射）镀膜的质量。 提高AR涂层效率的有力工具 Total Color F+具有易于使用的界面，简化了薄膜测量的管理。轻松地进行定期质量检查和统计报告，这有助于减少涂布过程的安装时间，使机器保持在最佳状态，并确保最高的涂布质量。 易于使用的软件，可直接从任何分光光度计读取数据。 采集高精度的绝对反射和透射测量 将绝对测量值转换为CIELAB坐标，以实现精确的色彩定义。 计算单层的折射率、物理厚度和模具系数。 使用涂层列表编辑器修改和创建各涂层的规格。 涂层的手动模拟 系统要求。 - PC与微软Windows 7，Windows 10 32/64位O.S。 串行端口RS-232（兼容UART 16550），用于连接Perkin Elmer。 用于MS-400-C*/MS-400-C UV*连接的USB接口。 光盘驱动器 USB接口，用于软件保护硬件密钥 打印机 支持的分光光度计 MS-400-C*，MS-400-C-UV*。 Perkin Elmer Lambda 12, 20和25 * 便携式光纤仪器